ルネサス エレクトロニクスは、設計段階でLSIの配線信頼性を予測する手法を開発し、9月3日に開催の「EDA Tech Forum 東京 2010」で同手法に関して講演した。登壇したのは、同社の吉岡信行氏(生産本部 デバイス・解析技術統括部…
「作る前に品質を確認」、ルネサスが設計段階でLSIの配線信頼性を予測する手法を開発
9月 8th, 2010 · No Comments
Tags: shot69-2
ルネサス エレクトロニクスは、設計段階でLSIの配線信頼性を予測する手法を開発し、9月3日に開催の「EDA Tech Forum 東京 2010」で同手法に関して講演した。登壇したのは、同社の吉岡信行氏(生産本部 デバイス・解析技術統括部…
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